Laboratorio A9. Propiedades Ópticas de Películas Delgadas

Investigador Responsable:

Dr. Arturo Mendoza Galván.

 


Edificio A: Propiedades Ópticas de Películas Delgadas.


Tel Laboratorio: (442) 2119900 ext.1507

 

 

 

Descripción de Laboratorio:

Adquisición de espectros elipsométricos, reflectancia y transmitancia. La espectroscopia elipsométrica determina el cambio en el estado de polarización que experimenta la luz al ser reflejada por una muestra. Con el análisis de espectros ópticos es posible determinar:

 
  • Espesores: de 1 nm a 3 μm.
  • Índices de refracción y coeficientes de extinción.
  • Función dieléctrica compleja.
  • Ancho de banda prohibida.
  • Transiciones electrónicas.
  • Rugosidad superficial e interfacial.
  • Composición.
  • Cristalinidad.

Entre las aplicaciones se incluyen:

 
  • Materiales semiconductores y dieléctricos.
  • Recubrimientos ópticos antirreflejantes.
  • Vidrios recubiertos.
  • Películas metálicas delgadas.
  • Polímeros.
  • Materiales compuestos.
  • Materiales electrocrómicos.
  • Óxidos metálicos, aleaciones, etc.

 

 

Equipos

 

1. Elipsómetro espectroscópico de modulación de fase (Horiba-Jobin Yvon).

Intervalo espectral: 1.5 – 5.0 eV.

Ángulo de incidencia variable: 40-90°.

 

 

2. Sistema FilmTek 3000 (Scientific Computing, Inc.).

Espectroscopias de reflectancia y transmitancia a incidencia normal.

Intervalo espectral: 240-840 nm.

 

 

 

3. Espectrómetro con fibras ópticas (Ocean Optics).

Intervalo espectral 380-1000 nm.

 

 

 

 

Coordinación Técnica

 
Mayores informes:
Correo: ctecnica.qro@cinvetav.mx
Tel: (442) 2119919