Nuestros Servicios
- Servicios de laboratorio
- Pruebas mecánicas y metalografía
- Preparación de muestra metalográfica (corte, montaje, desbaste y pulido)
- Preparación de muestra metalográfica (corte, desbaste y pulido)
- Preparación de muestra metalográfica (desbaste y pulido)
- Montaje de muestras en resinas
- Ensayos de pruebas mecánicas: tensión, compresión y flexión en maquina universal
- Prensado de polvos
- Difracción de rayos x
- Análisis térmico
- Servicios por DSC
- Comportamiento térmico (un barrido lineal) Rango de temperatura ambiente RT A 450°C
- Comportamiento térmico (un barrido lineal) Rango de temperatura ambiente RT de -65°C a 700 °C
- Transición vítrea (ciclo calentamiento-enfriamiento-calentamiento)
- Capacidad calorífica por el método del zafiro en segmentos de temperatura no mayores de 200°C (blanco, zafiro, muestra)
- ADSC en un intervalo de temperatura no mayor a 100 °C (blanco, calibración, muestra)
- Estabilidad térmica en atmósfera inerte
- Oxidación en aire o atmósfera rica en oxígeno
- Determinación de difusividad térmica desde temperatura ambiente a 1100°C por Thermal Flash láser, por cada temperatura e intervalos de 100°C
- Difusividad térmica por Laser Flash a temperatura ambiente
- Determinación de conductividad térmica a temperatura ambiente
- Determinación de conductividad térmica por temperatura a intervalos de 100 °C hasta 1100°C (por cada temperatura)
- Mediciones de densidad usando método de Arquímedes
- Propiedades ópticas
- Análisis por Uv vis (obtención de espectros de absorción)
- Análisis por microscopía Raman
- Obtención de espectros de emisión por flourescencia UV - Vis, no incluye preparación de muestra
- FTIR utilizando las técnicas de Transmisión y Reflectancia Totalmente Atenuada (ATR) con punta de diamante
- Análisis de espectroscopía infrarroja (Reflectancia difusa, especular, reflexión totalmente atenuada y transmisión en el medio y cercano infrarrojo)
- Microscopia infrarroja (incluye preparación de equipo)
- Cromatografía de gases
- Análisis Químico ICP-EOS
- Microscopía electrónica
- Espectroscopia de Energía dispersiva de Rayos X Caracteristicos (EDS)(quimica elemental) MIC 1
- Micro - XRF micro-fluorescencia de Rayos X en microscopio electrónico de barrido (MIC. 1)
- Microscopía Electrónica de barrido ESEM (FOTOMICROGRAFIAS) MIC.1)
- Espectroscopía de Energía Dispersiva por longitud de onda de Rayos X Caracteristicos (WDS) (MIC.3)
- Microscopía Electrónica de Barrido FE-SEM (tofomicrografías) (MIC 3)
- Espectroscopía de Energía Dispersiva de Rayos X caracteristicos (EDS) (MIC. 3) (QUIMICA ELEMENTAL)
- Difracción de Electrones Retrodispersados (EBDS) (MIC.2)
- Microscopía Electrónica de Barrido FE-SEM (tofomicrografías) (MIC. 2)
- Recubrimiento de muestra en Grafito (ARBNONO)
- Recubrimiento de muestra en Oro
- XPS
- Espectroscopía de fotoelectrones por rayos-X en materiales con compatibilidad en ultra-alto vacío (UHV): Polvos, películas delgadas, polímeros, cerámicos, etc. incluye el ajuste de los datos por picos
- Espectroscopía de fotoelectrones por rayos-X en materiales con compatibilidad en ultra-alto vacío (UHV): Polvos, películas delgadas, polímeros, cerámicos, metáles, etc. incluye el ajuste de los datos por picos y análisis de composición
- Espectroscopía de fotoelectrones por rayos-X con resolución angular (ARXPS) en películas conformes y superficies planas con compatibilidad en ultra-alto vacío (UHV), incluye ajuste por picos
- Espectroscopía de fotoelectrones por rayos-X con resolución angular (ARXPS) en películas conformes y superficies planas con compatibilidad en ultra-alto vacío (UHV), incluye ajuste por picos y análisis de composición en función de la profundidad (máximo 8 nm).
- Perfilometría
- Pruebas de dureza, módulo de elasticidad y rasgado a micro y nanoescalas con nanoindentador de diamante (Berkovich, Vickers, Knoop)
- Microscopía de fuerza atómica con modos convencionales de contacto y tapping, y modos no convencionales como piezo-respuesta PFM, sonda Kelvin por KPFM, mapeo de módulo de elasticidad por AFAM y nanofricción por LFM
- Perfilómetro 3D para medición de rugosidad de superficie y espesores de películas delgadas
- FTIR
- Análisis de Espectroscopía Infrarroja Medio Infrarrojo: Reflectancia Difusa, Reflectancia Especular con Angulo Variable con y sin Polarizador KRS-5, Reflectancia Totalmente Atenuada con Punta de Diamante/ZnSe con Calentamiento y Transmisión).
- Análisis de Espectroscopía Infrarroja Cercano Infrarrojo: Reflectancia Difusa, Reflectancia Especular con Angulo Variable con y sin Polarizador KRS-5 y Transmisión).
- Microscopía infrarroja (incluye preparación de equipo).
- Otros
